API激光干涉儀是實驗室和工業(yè)環(huán)境中的高精度測量解決方案，專為長度、角度和直線度測量設計，精度可達納米級，滿足光學元件、半導體制造等領域的超精密需求。該設備基于激光干涉原理，通過檢測光程差變化，實現(xiàn)非接觸式測量，在短距離內（如1米）精度優(yōu)于±0.1微米，確保微米級工件的精度。其核心特點包括：

• 高分辨率與穩(wěn)定性：采用波長級測量技術，對微小位移敏感，適用于校準精密機床和光學系統(tǒng)。

• 環(huán)境適應性：內置溫度補償和減震設計，減少空氣擾動和振動影響，保證數(shù)據(jù)一致性。

• 多功能應用：支持一維至三維測量，如評估光學鏡面平整度或半導體晶圓定位，提升產品良率。

在實踐場景中，API激光干涉儀成為研發(fā)和質量控制的基石。例如，在半導體制造中，它用于校準光刻機，確保芯片圖案的精確復制；在科研領域，則助力光學實驗，驗證理論模型。其自動化數(shù)據(jù)采集功能簡化操作流程，推動技術創(chuàng)新和產業(yè)升級。