菲希爾X射線XULM測厚儀適用領域特點 適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點最小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。

菲希爾X射線熒光測厚儀XUL小型臺式 射線管出射點稍大，非常適合測量點在1mm以上的應用

菲希爾Fischer測厚儀XUL220/X射線 x射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾X射線，F(xiàn)ISCHER X射線測厚儀，菲希爾鍍層測厚儀。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN500，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER測厚儀，菲希爾X射線測厚儀

Fischer菲希爾DualScope FMP20膜厚儀測厚儀 DualScope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀 能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多涂層。根據您的測量應用，您可以根據磁感應法，渦流法或根據兩種方法組合在一臺儀器中進行的涂層厚度測量。

庫倫法測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP，菲希爾測厚儀，F(xiàn)ISCHER庫倫法測厚儀，F(xiàn)ISCHER

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國菲希爾 (Fischer) 公司 XDL 系列中一款高性價比的臺式能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測厚及材料分析儀，專為質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控設計，采用從上往下的測量方向，配備手動 XY 工作臺和電動 Z 軸系統(tǒng)。